OLED器件硅光电式寿命测量
OLED器件硅光电式寿命测量
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系统概述
夹具底部带有加热板,利用高温加速OLED器件的老化,进行指定高温条件下的器件寿命测试。
加热工位参数
温度范围: 室温 - 100 ℃ (室温 -120℃可?。?br style="margin: 0px; padding: 0px; box-sizing: border-box;"/>温度精度: ±1℃,温度波动±0.2℃
软件功能
(1) 测量模式:恒压、恒流、恒亮模式
(2) 测量数据:测量时间、样品信息、电流、电压、光感电压、预估寿命、亮度衰减比、温度
(3) 测量图表:衰减比实时电流/电压/衰减曲线
(4) 测量时间:三个时间段设计,每个时间段可以分别设置测量时间间隔等参数
(5) 发光点测量的独立性:每个发光点可以独立设置电压或电流等参数,共有96组电压和96组电流输出,以及96组电流和电压的独立测量
(6) 光学寿命测量时,每个发光点可以独立开始和停止测量,每个发光点均可设置独立的三段测试时间和间隔.支持用户在测试过程中,增加或 更换其中几片产品
(7) 图表实时查询:支持图表在测量过程中实时查询,不必等待测量结束后再看数据和图表
(8) 曲线图:支持选择电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据,在图表里显示曲线。
(9) 测量前预处理功能:可以设定的需要预处理的温度值、电流、电压值和时间等参数,正常测量前先以预处理条件进行老化,然后再进 入正常寿命测试程序。
(10) 数据实时存储,异?;指春罂烧一厥莶⒓绦馐裕ㄖ卸系氖奔洳焕刍?,能自动减除)
(11) Datalog及Eventlog实时记录
软件界面
咨询电话:
0512-62564212
0512-62564213
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